Microscope acoustique à balayage

Microscope acoustique à balayage

L'appareil est utilisé pour détecter toutes sortes de dispositifs et de matériaux semi-conducteurs, et peut détecter des défauts tels que des pores, des fissures, des inclusions et un délaminage à l'intérieur de l'échantillon, et les afficher visuellement sous forme graphique.
Envoyez demande
Description

Microscope à balayage ultrasonique :L'appareil est utilisé pour détecter toutes sortes de dispositifs et de matériaux semi-conducteurs, et peut détecter des défauts tels que des pores, des fissures, des inclusions et un délaminage à l'intérieur de l'échantillon, et les afficher visuellement sous forme graphique.

 

Taille de l'équipement

1000mm×900mm×1400mm

Alimentation

C.A. 220 V, 10 A

Taille du réservoir interne

620 mm × 650 mm × 150 mm

Gaz source

ADC

Zone de numérisation efficace

350 mm × 300 mm × 100 mm

Eau

Eau désionisée

Vitesse de numérisation maximale

600 mm/s

   

 

Caractéristique du produit et application
  • Les résultats de l'analyse sont clairs et précis.
  • Reconnaissance des défauts jusqu'à 0,15 mm.
  • Logiciel puissant : mode mesure standard, mode édition de prescription, mode maintenance des équipements.
  • Plusieurs modes de numérisation : analyse A, analyse C, analyse T, analyse de zone, analyse par lots.
  • La sonde est alignée avec l'image C-scan.
  • Génération automatique de rapports
  • Statistiques automatiques et calcul de la taille et de la surface des défauts
  • Calibrage automatique en un-clic
  • Fonction de numérisation multi-couche à la fois
  • Détection d'épaisseur, détection de densité, détection de défauts, détection de vitesse du son.

Détails de production

 

product-1062-462

 

Notre usine et atelier

 

product-1062-508

product-1062-490

 

Certificat

 

product-1062-410

 

Partenaire coopératif

 

product-1062-438

 

FAQ

 

Q : Qu’est-ce que SAT ?

R : Le microscope à balayage ultrasonique (SAT) est une sorte d'équipement d'imagerie de test non destructif utilisant les ultrasons comme support. Il utilise principalement des ultrasons à haute fréquence-pour détecter toutes sortes de dispositifs et de matériaux semi-conducteurs, et peut détecter les défauts tels que les pores, les fissures, les inclusions et le délaminage à l'intérieur de l'échantillon, et les afficher visuellement de manière graphique. Dans le processus de numérisation, cela n'endommagera pas l'échantillon et n'affectera pas les performances de l'échantillon, ce qui peut répondre aux besoins de contrôle de qualité du substrat en céramique, de l'IGBT, du radiateur refroidi à l'eau, de la batterie, du semi-conducteur, des pièces de soudage électrique, des matériaux composites en diamant, des matériaux composites en fibre de carbone et d'autres produits.

Q : Pour quels produits ?

R : Convient à tous les types de dispositifs semi-conducteurs et autres produits nécessitant une détection de défauts.

Q : Comment choisir le bon SAT ?

R : Sélectionnez en fonction de différentes tailles de produits et exigences fonctionnelles :

  • Sélectionnez la sonde en fonction des différentes épaisseurs de produits
  • Sélectionnez les modèles en fonction des différentes plages de numérisation

 

étiquette à chaud: microscope acoustique à balayage, usine de microscope acoustique à balayage en Chine